Mikroskop Gaya Atom (AFM)

A.      Mikroskop Gaya Atom Mikroskop gaya atom (Atomic force microscope, AFM) merupakan jenis mikroskop dengan resolusi tinggi yang mana resolusinya mencapai seperbilangan nanometer (1000 kali lebih kuat dari batas difraksi optik). Nano adalah satuan panjang sebesar sepertriliun meter (1 nm = 10-9 m). Bahan berstruktur nano merupakan bahan yang memiliki paling tidak salah satu dimensinya … Read moreMikroskop Gaya Atom (AFM)